粉塵排出量測定は容易に行えるのか?
持続可能な環境保護には、排出される粉塵や粒子の検出と正確な測定が必要です。この分野において、Endress+Hauserの革新的な測定技術が大きく貢献する理由をご説明します。
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複数の業界
02.12.2025
要約
極端に言ってしまえば、すべての測定技術員が望むのは、正確で迅速な測定が可能、かつ高い可用性を備えた堅牢な機器のみです。Endress+Hauserは、連続および不連続の両方の測定原理に基づいて動作する機器から、ウェット排気ガス中の粉塵測定用の機器まで幅広い製品ラインナップを提供しており、測定作業が複雑であっても適切なソリューションが見つかります。 実際の作業をより詳細にご説明いただければ、安全でコスト効率の良い測定技術をご提供しやすくなります。 コストの削減は、初期投資のコストだけではなく、機器の稼働寿命中のコスト全体に及びます。対象となるガスは乾性腐食性ガスか、高温の燃焼排ガスか、プロセス制御を行うのはウェットガス排出量測定か、繊維バッグフィルターでのろ過後の低濃度な粉塵の測定か、または電気フィルターでのろ過前の未処理ガス中の高濃度な粉塵の測定かなど、詳細にお伝えください。 作業員の健康被害防止および労働安全性確保のため、製造施設内の空気中における粒径が低µm範囲の微細粉塵量を監視する必要があります。Endress+Hauserの粉塵量計測機器 は、採石場の破砕機から発生する大量の粉塵でさえも効果的かつ正確に測定可能です。
粉塵および粒子濃度を確実かつ正確に測定するには、以下の基準を考慮する必要があります。
測定場所の選定
信頼性が高く代表的な測定結果を得るための決定要因は、プラントでの測定場所の選定です。測定場所は、測定技術および長期運用する計測機器に大きな影響を与える可能性があります。
測定セクション
測定セクションは、0.25 mの非常に狭いチャンネルでしょうか?それとも12 m以上の大口径の煙突でしょうか?
流量条件
測定場所での流量条件は、均一な流れでしょうか?または濃度が10 g/m3を超える乱流でしょうか?
濃度
測定対象は1 mg/m3 未満の非常に低い粒子濃度でしょうか?または中程度から非常に高濃度の測定物でしょうか?
ガス組成
測定物のガス組成は周囲空気でしょうか?または浸食性媒体でしょうか?
粒子特性
主な粒子特性はどのようなものでしょうか?どのような粒径・粒度、形状、色、物質、粘度でしょうか?粒子には粘着性や浸食性はあるでしょうか?
周囲条件
現場の周囲条件はどのようなものでしょうか?周囲温度はどの程度でしょうか?主な空気組成は何でしょうか?空気には塩分や微細な粉塵が含まれているでしょうか?
境界条件によっては、散乱光測定または透過率測定の方が粉塵濃度の検出に適している場合があります。透過率測定原理では、粒子の光吸収による光線の減衰に基づいて測定が行われます。散乱光測定では、放射された光が混合ガス中の粒子によって散乱され、高感度レシーバによって検出されます。
透過率測定技術:高い粉塵濃度および不均一な測定物での測定
透過率測定技術は、粉塵粒子による光の減衰を検出します。透過率粉塵計測機器は、中~高濃度の粉塵ならびに大径のガス導管に最適です。適用分野は、排出ガスやプロセスの監視、室内空気の監視などです。計測機器はガス導管の直径全体にわたって測定し、粒子分布の不均一性を部分的に補正します。これにより、非常に代表的な測定結果が得られます。この機器はガス導管内に突き出ないため、腐食性のあるプロセスガスと直接接触することはありません。
©Endress+Hauser
透過率測定技術を使用した粉塵濃度の判定
散乱光測定:粉塵濃度が低い場合に最適
散乱光測定原理は感度が高く、特に低濃度の粉塵測定に適しています。 粉塵濃度が1 mg/m未満の場合でも、設備固有の要件や粒子の特性に応じて、前方または後方散乱式を使用することができます。
一部のプロセスでは、ガスを排出前にスクラバーユニットで洗浄します。しかし、正確な粉塵濃度の記録は、粉塵が水分を含んでいる場合は特に困難です。従来の粉塵濃度計測機器では、粉塵と水滴を区別できないため、測定結果が歪曲されます。ここで役立つのは、バイパスシステムを使用して測定物をスタックから抽出し、乾燥させ、測定する手法です。この手法は、抽出式散乱光計測機器FWE200DH に採用されています。FWE200DHはスタックから煙道ガスを継続的に抽出し、サーモサイクロンによって数秒のうちに乾燥させ、前方光散乱を使用して特に低濃度の粉塵を正確に記録します。
肥料産業などの一部分野のアプリケーションでは、サンプルガス内に形成される凝縮水には高レベルの石灰や塩分が含まれるため、一定期間稼働するとホースやサンプルガスプローブが詰まることがあります。FWE200DHの逆洗装置付きバージョンでは、空気や水を使用して定期的に回路を洗浄できるため、測定が困難な条件下でも高い可用性を維持できます。
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FWE200DHはバイパスシステムとして動作します。ガス流の一部が、ガス管からテストガスプローブによって吸引され、サーモサイクロンでの加熱によって水滴とエアロゾルが気化します。
測定作業を成功させるには、利用可能な最良の技術の選定以外に、あらゆる影響や要件を考慮する必要もあります。
ドライ/ウェット排気ガス中の排出量測定
焼却炉は、多くの工業用プロセスにおいて重要な役割を果たしています。除塵プラントでは、連続動作する計測機器が使用されます。これらのアプリケーションでは、計測機器に対して排気ガスの組成、温度、水分率などに関する要求が非常に高くなります。プラントの測定物や動作モードによっては、温度が水や酸の露点を下回る場合があり、排気ガスに接触する機器の部品が腐食する可能性があります。したがって、ドライガスとウェット排気ガスの両方を高い精度で測定する性能だけでなく、最大限の可用性と低メンテナンス性も求められます。
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DUSTHUNTER T200による電気フィルターの効率的な監視
安全なフィルターの監視
フィルター性能の効率的な制御と機能の監視を行うために、フィルターのすぐ下流側で粉塵濃度が継続的に測定されます。計測機器が粉塵濃度の変化に対して、より高感度かつ迅速に反応するほど、侵入する粉塵が減少し、プラントの可用性が高まります。片側から非常に容易に設置可能なDUSTHUNTER SP100 は、このようなアプリケーションに最適です。プローブ型式であるため、機械的な調整や無粒子測定距離の位置合わせが不要です。
脱塵と同期したフィルター監視
許容排出制限値の超過を防止するには、早い段階でフィルターの不具合を特定することが重要です。不具合のあるバッグまたはバック群のみを交換する場合は、その位置を正確に特定する必要があります。そのためには、排出ピークの発生によってフィルターの不具合を検出できるように、バッグの脱塵と同期した粉塵濃度測定が必要です。DUSTHUNTER SP30 には、この課題に対応できる実績があります。
製造設備の機械加工やプロセス領域では、効率の向上にますます力が注がれています。そのため、Endress+Hauserの粉塵計測機器は従来の排出量測定に使用されるだけでなく、閉鎖された設備、容器、タンク、部屋にも設置されています。食品、医薬品、染色などの産業や、木材または金属加工において発生する切削くず、糸くず、粉体、粉塵などの粒子は、爆発性雰囲気を形成することがあります。
このような環境下では、プロセスガスの測定時に発火源とならない防爆認定取得済みの計測機器しか使用できません。DUSTHUNTER SP100は、防爆エリア2/22または1/21にも対応しています。
©Endress+Hauser
防爆エリア2/22および1/21対応のDUSTHUNTER SP100
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Endress+Hauserの散乱光および透過率粉塵測定装置によるクラス最高の粉塵測定技術。
Endress+Hauserの粒子計測機器をご紹介します
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標準的製品
高い信頼性と堅牢性、容易なメンテナンス
技術的卓越性
シンプルさ
特殊仕様の製品
要件の厳しいアプリケーション向けに設計
技術的卓越性
シンプルさ
FLEX セレクション
技術的卓越性
シンプルさ
Fundamental セレクション
基本的な測定要件に対応
技術的卓越性
シンプルさ
技術的卓越性
シンプルさ
Extended セレクション
革新的な技術でプロセスを最適化
技術的卓越性
シンプルさ
Xpert セレクション
最も困難なアプリケーションにも対応
技術的卓越性
シンプルさ
Endress+Hauserは堅牢かつ低メンテナンス性に優れた、新しいスタンダードとなる計測機器をご提供します。
次世代海事産業の国際展示会「Sea Japan 2026」に出展いたします
22.04.2026 - 24.04.2026
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日本
次世代海事産業の国際展示会「Sea Japan 2026」に出展いたします
Certified Basic PROFINET Technology
05.05.2026 - 06.05.2026
15:30 - 23:30 JST
Reinach,
スイス
At the end of the course you will know about the features of the PROFINET technology and the PA profiles, network design of 100BaseTX and Ethernet-APL.
2025年12月17日 分光分析セミナー検量線モデルの考え方編 オンライン開催
オンライン
2025年12月17日 分光分析セミナー検量線モデルの考え方編 オンライン開催のお知らせ
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