Title
button cancel
キーワード、オーダーコード、製品コード、またはシリアル番号で検索してください（例：「CM442」や「技術仕様書」）
2 文字以上を入力して検索を開始してください。

サイロに貯蔵された粉粒体のレベル測定

ガイドレーダーレベル計、超音波式レベル計、パルスレーダーレベル計の適切な用途を紹介

粉粒体貯蔵用サイロ ©Endress+Hauser

ガイドレーダーレベル計、超音波式レベル計、パルスレーダーレベル計はいずれも伝播時間（TOF）方式を採用しており、送信したマイクロ波または超音波信号が測定対象物の表面で反射し、機器に戻るまでの時間を測定することでレベルを検出します。ただ、粉粒体を貯蔵するサイロでは、レベル測定が難しい場合があります。これらの技術をどのような条件や用途で使用すべきか、詳しくは専門家の見解をまとめたホワイトペーパーをご覧ください。

各測定技術について

前述のとおり、貯蔵サイロ内の粉粒体のレベル測定には、さまざまな課題があります。詳しくは、以下の内容をご覧ください。

  • ガイドレーダーレベル計（GWR）

  • 超音波式レベル計

  • パルスレーダーおよびFMCWレーダー

  • 高度な診断機能による測定性能の向上

  • ビーム角と周波数が測定技術の選定に与える影響

ホワイトペーパーをダウンロード

お問い合わせ先

当社の製品にご興味をお持ちですか？ご使用のアプリケーションについてご相談がおありですか？

当社セールスへのお問合せ

お問合せ、お困りごとの内容はできるだけ詳しくお知らせください。より適切なサポートが可能になります。

  • レベル計アプリケーション レベル計アプリケーション

    レベル計・レベルスイッチ

    液体、ペースト、粉体、または液化ガスの連続レベル測定、界面測定、密度測定、ならびにポイント検出にはさまざまな測定原理があります。Endress+Hauserは幅広い製品ラインアップでお客様のニーズにお応えします。

    • シンプルな製品

    • 選定、設置、操作が簡単

    技術的卓越性

    シンプルさ

    • 標準的製品

    • 高い信頼性と堅牢性、容易なメンテナンス

    技術的卓越性

    シンプルさ

    • ハイエンド製品

    • 高性能で高い利便性

    技術的卓越性

    シンプルさ

    • 特殊仕様の製品

    • 要件の厳しいアプリケーション向けに設計

    技術的卓越性

    シンプルさ

    高い柔軟性

    FLEX セレクション 技術的卓越性 シンプルさ
    • F
    • L
    • E
    • X

    Fundamental セレクション

    基本的な測定要件に対応

    		技術的卓越性
    		シンプルさ
    • F
    • L
    • E
    • X

    Lean セレクション

    コアプロセスの要件に対応

    		技術的卓越性
    		シンプルさ
    • F
    • L
    • E
    • X

    Extended セレクション

    革新的な技術でプロセスを最適化

    		技術的卓越性
    		シンプルさ
    • F
    • L
    • E
    • X

    Xpert セレクション

    最も困難なアプリケーションにも対応

    		技術的卓越性
    		シンプルさ

    高い柔軟性

お客様のプライバシーを尊重します

Endress+Hauser は Cookie を使用して、閲覧エクスペリエンスを向上させ、統計を収集してサイトの機能を最適化し、カスタマイズされた広告やコンテンツを配信します。

「すべて受け入れる」を選択すると、Cookie の使用に同意したことになります。
詳細については、当社の Cookie ポリシー をご覧ください。