製造プロセスにおけるIoT、ICT技術の活用

レベル測定値以外に様々な測定データを活用できる最新のレベル計技術

株式会社技術情報協会発刊『製造プロセスにおけるIoT、ICT技術の活用』に「レベル測定値以外に様々な測定データを活用できる最新のレベル計技術」というテーマで記事を寄稿しました。
この記事にご興味がございましたら弊社執筆部分のみ、無料配布しておりますので、下記応募フォームよりお申し込み下さい。
 

掲載概要 

「レベル測定値以外に様々な測定データを活用できる最新のレベル計技術」には、マイクロウェーブ式レベル計に標準搭載されているHART信号を利用したレベル測定値だけでなく、マイクロ波の反射を数値化した値やインカップリングエリアと呼んでいるアンテナ近傍の反射を数値化した値を付着検知へ利用する方法について説明をしております。レベル計の歴史や種類など、レベル計の概要もご紹介しておりますので、レベル計全般の知識を深めていただける内容となっております。

※ 『製造プロセスにおけるIoT、ICT技術の活用』の詳細は、株式会社 技術情報協会 公式ページをご参照ください。

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